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SEKONIC世光 C-7000 工業(yè)用光譜儀照度計 現貨 測量 380 至 780nm 的 LED、HMI、熒光燈、白熾燈、自然光和閃光燈 色溫測量范圍廣（1,600 至 40,000K）和照度測量范圍廣（環(huán)境光下 1 至 200,000lx，閃光燈下 20 至 20,500lx?s） 符合 JIS C 1609-1: 2006 照度計等級

S-VANS安德魯斯 光纖照明裝置 185FI 高強度鹵素光源裝置 是一種宏觀觀察照明裝置，用于檢測 最終成品表面上的各種缺陷，如異物、劃痕、拋光不均勻、霧霾、滑移等，是整個加工過程中勞動強度最大的部分。半導體晶片和液晶基板的加工 。

S-VANS安德魯斯 光纖導光超高照度鹵素照明裝置 370TFR 高強度鹵素光源裝置 是一種宏觀觀察照明裝置，用于檢測 最終成品表面上的各種缺陷，如異物、劃痕、拋光不均勻、霧霾、滑移等，是整個加工過程中勞動強度最大的部分。半導體晶片和液晶基板的加工 。

S-VANS安德魯斯 光纖照明裝置 370TFI 高強度鹵素光源裝置 是一種宏觀觀察照明裝置，用于檢測 最終成品表面上的各種缺陷，如異物、劃痕、拋光不均勻、霧霾、滑移等，是整個加工過程中勞動強度最大的部分。半導體晶片和液晶基板的加工 。

S-VANS安德魯斯 超高強度激光照明裝置 350LSFI 高強度鹵素光源裝置 是一種宏觀觀察照明裝置，用于檢測 最終成品表面上的各種缺陷，如異物、劃痕、拋光不均勻、霧霾、滑移等，是整個加工過程中勞動強度最大的部分。半導體晶片和液晶基板的加工 。